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Formation MEB

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IUT

IUT de Blois
41 - Loir-et-Cher


Département

BUT Science et génie des matériaux (SGM)


Domaine

Sciences


Dates de formation

À définir


Durée de la formation

2 jours
15 heures


Lieu de réalisation

À l'IUT

Modalité

Présentiel


Éligibilité CPF

Oui


Objectifs principaux

  • Prendre en main de façon autonome le microscope électronique à balayage (MEB)
  • Paramètres de réglage pour l’imagerie
  • La préparation, la nature et la propreté des échantillons
  • Le niveau de vide
  • La tension d’accélération
  • Le type de détecteur
  • La distance de travail
  • La correction d’astigmatisme
  • Le contraste et la brillance des détecteurs
  • La résolution (le spot size)
  • La vitesse de balayage
  • L’orientation de l’échantillon

Type de reconnaissance

Attestation / Certificat de réalisation


Public visé

Industriel


Prérequis

Bases en matériaux


Programme de formation

Module théorique (présentation du matériel) :

  • Du faisceau d’électron à l’Image écran
  • Interactions électron-matière (rappel sur l’organisation atomique, interactions et informations recueillies après interaction électron-matière)
  • Le Microscope Electronique à Balayage Environnemental (TECAN MIRA3)
  • Evaporateur JEOL pour la métallisation des échantillons
  • Ordinateur dédié à la recherche de virus sur les supports de transfert des données
  • Spectroscopie de rayons X à dispersion d’énergie (EDX)

Module pratique (utilisation du microscope) :

  • Préparation des échantillons
  • Imagerie
  • Analyse de différents types d’échantillons dans différentes configurations
  • Analyse élémentaire par EDX

Installations / Équipements

MEB MIRA


Évaluation des acquis

Épreuve écrite (test, QCM...)


Intra-entreprise

Type de tarification : Sur demande
Montant HT : Sur demande


Inter-entreprise

Type de tarification : Sur demande
Montant HT par participant : Sur demande


Nombre de participants

1 participant


Demande d'information ou de devis

bruno.pignon@univ-tours.fr



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